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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2024-01-15 瀏覽數(shù)量：
優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方電子元器件二次篩選機構(gòu)，實驗室具備IGBT元器件GJB篩選檢測資質(zhì)和檢測能力，可提供IGBT元器件二次篩選、AEC-Q101認證、失效分析及環(huán)境可靠性測試服務。
GJB 33A-1997 《半導體分立器件總規(guī)范》
GJB 128A-1997 《半導體分立器件試驗方法》
1. 內(nèi)部目檢；
2. 溫度循環(huán)；
3. 恒定加速度；
4. PIND；
5. 編序列號；
6. 初始電參數(shù)測試；
7. 老練；
8. 終點電參數(shù)測試；
9. 計算變化量；
10. 計算PD；
11. PDA；
12. 密封試驗（細檢漏、粗檢漏）；
13. X射線照相檢驗；
14. 外觀檢查。
1. 收樣、標識、入庫、入系統(tǒng)；
2. 目檢；
3. 電參數(shù)測試：按照產(chǎn)品規(guī)格書電性能或電氣性能測試；
4. 老練篩選：高溫、反偏、功率等；
5. 環(huán)境應力測試：振動、沖擊、離心加速度、溫度循環(huán)；
6. 密封性檢查：粗細檢漏、PIND；
7. 三溫電參數(shù)測試：按照產(chǎn)品規(guī)格書電性能或電氣性能測試
6. 打點、封裝、出庫。
1. 專家團隊
可靠性檢測專家、定制化服務、專業(yè)人員技術(shù)培訓服務，擁有多名航空、航天電子元器件質(zhì)量可靠性專組成的專家團隊50余人。
2. 專業(yè)設備
配備各種規(guī)格的集成電路測試系統(tǒng)，老煉箱50余臺、各類環(huán)境箱體20臺套、機械性能與可靠性檢測設備30臺套、半導體分立器件測試系統(tǒng)、模擬器件測試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測設備等。
3. 一站式方案服務
依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格，準確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結(jié)果，準確定位元器件失效機理，并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。
4. 權(quán)威保障
軍用級檢測體系控制+軍方實驗室認可檢測設備，保證測試流程和測試精度，第三方公正檢測機構(gòu)。
獲取報價
如果您對我司的產(chǎn)品或服務有任何意見或者建議，您可以通過這個渠道給予我們反饋。您的留言我們會盡快回復！
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