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      ?AEC-Q100認證
      
                        
                        
      
                         
      集成電路（IC）AEC-Q100認證機構

      IC作為重要的車載元器件部件，是AEC委員會持續(xù)關注的重點領域。AEC-Q100對IC的可靠性測試可細分為加速環(huán)境應力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學參數(shù)驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗，且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。優(yōu)科檢測認證可根據(jù)客戶的要求，依據(jù)標準對客戶的IC進行評估，出具合理的AEC-Q100認證方案，從而助力IC的可靠性認證。接下來為大家詳細介紹AEC-Q100認證服務。

      aec-q100-3.jpg

      什么是AEC-Q100認證？
      AEC-Q100 主要是針對車載應用的集成電路產(chǎn)品所設計出的一套應力測試標準，此規(guī)范對于提升產(chǎn)品信賴性品質(zhì)保證相當重要。 AEC-Q100 是 AEC 的第一個標準， 是由美國汽車電子協(xié)會 AEC 所制定的規(guī)范，AEC-Q100 于 1994 年 6 月首次發(fā)表， 經(jīng)過了十多年的發(fā)展， AEC-Q100 已經(jīng)成為汽車電子系統(tǒng)的通用標準。 

      對于汽車電子元器件來說 AEC-Q100 是最常見的應力測試(Stress Test)認證規(guī)范。 如果成功完成各要點需要的測試結果， 那么將允許供應商聲稱他們的零件通過了AEC-Q100認證。 供應商可以與客戶協(xié)商， 可以在樣品尺寸和條件的認證上比文件要求的要放寬些， 但是只有完成要求實現(xiàn)的時候才能認為零件通過了 AEC-Q100認證。

      AEC-Q100 是預防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)， 對每一個芯片進行嚴格的質(zhì)量與可靠度確認， 特別對產(chǎn)品功能與性能進行標準規(guī)范測試。

      AEC-Q100認證適用產(chǎn)品范圍
      要求通過AEC-Q100認證的車用電子零配件： 車用一次性內(nèi)存、 電源降壓穩(wěn)壓器、 車用光電耦合器、 三軸加速規(guī)傳感器、 視訊譯碼器、 整流器、 環(huán)境光傳感器、 非易失性鐵電存儲器、 電源管理 IC、 嵌入式閃存、 DC/DC 穩(wěn)壓器、 車規(guī)網(wǎng)絡通訊設備、 液晶驅(qū)動 IC、 單電源差動放大器、 電容接近式開關、 高亮度 LED 驅(qū)動器、 異步切換器、600V IC、 GPS IC、 ADAS 駕駛員輔助系統(tǒng)芯片、 GNSS 接收器、 GNSS 前端放大器等。

      集成電路AEC-Q100認證

      AEC-Q100認證測試項目
      測試組 A：加速環(huán)境應力測試（ 針對芯片產(chǎn)品） Accelerated Environment Stress Tests；
      測試組 B：壽命加速模擬測試 (針對芯片產(chǎn)品/IP/工藝庫) Accelerated Lifetime Simulation Tests；
      測試組 C：封裝完整性測試（ 針對芯片產(chǎn)品） Package Assembly IntegrityTests；
      測試組 D：工藝可靠性測試(針對 Foundry 廠） Die FabricationReliability Tests；
      測試組 E：電氣可靠性測試(針對芯片產(chǎn)品/IO 庫) Electrical VerificationTests；
      測試組 F：缺陷篩選測試（ 針對芯片產(chǎn)品） Defect Screening Tests；
      測試組 G：封裝過程后的封裝完整性測試（ 針對芯片產(chǎn)品） Cavity PackageIntegrity。

      每一個測試群組會再細化定義出幾項測試項目，并說明這些測試項目的測試理論參考何項半導體業(yè)界所使用的認證規(guī)范(例如： JEDEC、 MIL-STD883、 SAE 或者 AEC-Q100 本身所定義并且于附件里所定義的規(guī)則)；每一個測試項目也同時會定義測試樣品單一批次數(shù)量、 測試批次量以及判斷合格標準，若有額外的規(guī)范也會定義在每一項測試規(guī)范當中。

      AEC-Q100認證測試驗證流程
      AEC-Q100認證驗證流程圖.jpg
      1. Design House： 可靠度實驗前后的功能測試， 此部分需 IC 設計公司與測試廠討論執(zhí)行方式， 與一般 IC 驗證主要差異在功能測試的溫度設定。

      2. Wafer Foundry：
      D 測試組為晶圓廠在 Wafer Level 的可靠度驗證， Fabless 的 IC 業(yè)者須與委托制造的晶圓廠取得相關資料。

      3. Reliability Test ： AEC 將其分為：
      - 測試組 A ： 加速環(huán)境應力實驗
      - 測試組 B ： 加速工作壽命模擬
      - 測試組 C ： 封裝完整性測試
      - 測試組 E ： 電性驗證測試
      - 測試組 G ： 空腔/密封型封裝完整性測試

      集成電路AEC-Q100認證機構

      AEC-Q100認證測試周期需要多久？
      AEC-Q100驗證通常需要考慮與第三方機構前期的溝通洽談，要考慮試驗所需硬件的定制周期(例如bHAST / HTOL / ELFR)，還需要考慮第三方機構的試驗排期及實際所需測試時間，建議AEC-Q100驗證的周期預留160~180days完成驗證，優(yōu)科可提供全面的認證計劃、 測試、 報告等服務。

      AEC-Q100認證費用多少錢？
      AEC-Q100認證費用根據(jù)客戶提供的詳細規(guī)格書，依據(jù)AEC-Q100標準，進行標準解讀，有些項目不需要進行，也就是說做車規(guī)AEC-Q100認證，并非AEC-Q100里面列明的所有試驗項目都需要執(zhí)行，根據(jù)試驗項目決定測試費用。
      
                        
      
                        
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